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Convergencia de modelos y el mercado mundial de la educación superior: El reto para la excepción estadounidense

Dimensión empresarial, 2013-01, Vol.11 (1), p.11-22 [Peer Reviewed Journal]

2013. This work is published under https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ (the “License”). Notwithstanding the ProQuest Terms and Conditions, you may use this content in accordance with the terms of the License. ;ISSN: 2322-956X ;ISSN: 1692-8563 ;EISSN: 2322-956X ;DOI: 10.15665/rde.v11i1.157

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Citations Cited by
  • Title:
    Convergencia de modelos y el mercado mundial de la educación superior: El reto para la excepción estadounidense
  • Author: Gachon, Nicolas
  • Subjects: Competition ; Geopolitics ; Globalization ; Higher education
  • Is Part Of: Dimensión empresarial, 2013-01, Vol.11 (1), p.11-22
  • Description: Este articulo trata acerca del sistema de educación superior en Estados Unidos desde un ángulo organizacional,político y económico. El análisis está enmarcado en la categoría de estudios de política y utiliza la convergencia demodelos así como también una serie de prismas (histórico, ideológico, y geopolítico) para evaluar a largo plazo lasconsecuencias de la educación superior en Estados Unidos y su temprana adhesión a las normas del mercado. Elargumento es que la construcción histórica de un modelo de educación distintiva en Estados Unidos, el cual llegó aconvertirse en fuente global de la transferencia de política después del decenio de 1980, y precisamente por estamisma razón, últimamente condujo a una relativa erosión competitiva de la educación superior de Estados Unidosdel siglo XXI. En el caso de los Estados Unidos, la transferencia de política externa de sentido único transmitióun implícito desafío desde el principio: tanto en la educación superior, como en otros campos, exportar requierecapacidad de renovación para asegurar el estado de modelo del origen de la exportación.
  • Publisher: Barranquilla: Universidad Autonoma del Caribe
  • Language: English;Spanish
  • Identifier: ISSN: 2322-956X
    ISSN: 1692-8563
    EISSN: 2322-956X
    DOI: 10.15665/rde.v11i1.157
  • Source: AUTh Library subscriptions: ProQuest Central
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